UMR 5182

logo-ensl
Vous êtes ici : Accueil / Pôles Techniques / Caractérisation du solide et de matériaux

Caractérisation du solide et de matériaux

Principaux appareils constituant le parc instrumental de caractérisation de matériaux au LCH :

  • Appareils de mesure de diffusion de lumière (DLS, Dynamic Light Scattering) pour la mesure de la taille (diamètre hydrodynamique) de particules organiques ou inorganiques en suspension dans différents solvants et la mesure du potentiel zêta des particules. La gamme de tailles mesurées est de 0.6 nm à 6 µm ; la gamme de tailles pour laquelle le potentiel zêta peut être mesuré est de 5 nm à 10 µm.

1 – MALVERN Zetasizer Nano ZS (laser rouge, 633 nm)

2 – Anton Paar Particle Analyzer LiteSizer 500, équipé d’un module de titration Metrohm 867 pH (laser rouge, 658 nm)

  • Appareils d‘analyse thermogravimétrique (ATG). Instrument utilisé pour déterminer la stabilité thermique d'un matériau et sa fraction de composants volatils en mesurant la variation de masse d'un échantillon en fonction du temps qui se produit lorsque l’échantillon est chauffé à une vitesse constante.

1 – ATG Modèle STA 409 PC/4/H Luxx Chauffe dans une gamme de température de 20°C à 1000°C, dans différents environnements gazeux (air, O2, N2).

2 – ATG Setaram Labsys evo 1600°C, possibilité de faire de l’analyse thermique différentielle

  • BET (méthode Brunauer, Emmett et Teller), modèle BELSORP-max. Mesure de la porosimétrie à l'azote. Détermination de la surface spécifique d'un échantillon, mesure de la taille des pores et du volume poreux.
  • Profilomètre, modèle DektakXT Bruker (profileur à stylet). Mesure de l’épaisseur et de la rugosité de films, caractérisation de couches minces.
  • Rhéomètre, modèle Kinexus Malvern. Mesure d’écoulement et de déformation de liquides et de solides, mesure de viscosité.
  • Ellipsomètre Horiba Jobin Yvon (source 75 W) pour la caractérisation de couches minces (détermination de l’épaisseur et l’indice de réfraction).
  • Spectromètre d’absorption UV/Vis/NIR Perkin Elmer Lambda 750 (détecteur 60 mm InGaAs avec sphère d’intégration).
  • Spectromètre infrarouge Perkin Elmer Spectrum 65, équipé du module de réflectance totale atténuée (ATR) et de transmission.
  • Microscope électronique à balayage (MEB) de type Zeiss Supra 55VP. Cet appareil permet les observations d'échantillons dont les tails varient du micro à quelques nanomètres (en fonction du type d'échantillon). Une option vide partiel (VP) est également disponible pour l'observation d'échantillons biologiques (dits humides). L'analyse élémentaire (EDX) est possible grâce à un analyse Oxford Instruments
     

Contact: Szilvia Karpati, Frédéric Lerouge ou Frédéric Chaput