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Diffractomètre des rayons X sur poudre

Diffractomètre des rayons X sur poudre

 

Technique de base de la caractérisation des matériaux, la diffraction de rayons X sur poudre permet la détermination et l'identification de phases inconnues, minérales, inorganiques ou organiques, micro et poly-cristallines des matériaux.

D'autres applications peuvent être effectuées comme:

-la détermination des paramètres de maille

-la taille des cristallites et micro-déformations

-la détermination de la pureté de l'échantillon

-la résolution et l'affinement de structure

La méthode consiste à soumettre le composé en poudre à un faisceau de rayons X monochromatique et à recueillir le spectre de diffraction qu'il émet ; de la valeur θhkl de chaque raie, on tire la distance interréticulaire de la famille de plan (hkl) correspondante (Relation de Bragg).
 Le spectre de diffraction X d'un composé cristallisé a les caractéristiques suivantes:
* La valeur des dhkl dépend des paramètres de la maille et du mode de réseau.
* Les intensités des raies dépendent du contenu atomique de la maille (nature et positions des atomes)

La diffraction des rayons X sur poudre est utilisée pour les études en sciences des matériaux, science environnementale, géologie.

Chaque composé cristallisé a donc un diagramme caractéristique

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